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产品资讯-Bruker椭偏仪在尔迪仪器有售

发布时间:2022-08-22浏览:117次

椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。

这次带来了bruker的FilmTek 6000 PAR-SEFilmTek 2000M TSVFilmTek CDFilmTek 2000 PAR-SE四个型号。

 

Bruker椭偏仪可以满足多种前沿器件制造技术相关的需求。可独立测量薄膜厚度和折射率,显著提高其对薄膜变化的灵敏度,尤其是多层堆叠中的变化。

 

而且应用领域广泛,可应用于半导体、微电子、MEMS、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科学研究、物理、化学、生物、医药等等多种范围。

 

因为具有快速、实时优化功能的专有衍射软件。,可以轻松修改以满足研发和生产环境中的客户需求。

 

Bruker椭偏仪在上海尔迪仪器科技有限公司有售有需要可联系我司。


 

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