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产品介绍-Bruker布鲁克纳米压痕PI 89

更新时间:2024-05-09浏览:113次

Bruker 纳米压痕仪: Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套新系统搭载 Bruker 的电容传感技术,继承了商业化原位 SEM 纳米力学平台的优良功能。该系统可实现包括纳米压痕、拉伸、微柱压缩、微球压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能成像等功能。



特点


可互换传感技术,实现了更大范围(10mNx500 mN、3.5N和150μ.m)的原位纳米力学测试和微尺度力学测试

 

载荷和位移控制测试模式,可进行纳米压痕、压缩、 拉伸、疲劳或弯曲测试

 

采用新编码样品台技术(1 nm分辨率),可以在纳米晶粒 内部进行压痕操作

 

提供旋转/倾斜台两种配置,从而在进行纳米力学测试、二次电子成像、原位FIB加工和分析成像等操作时,样品定位能力进一步提高

 

采用不过时的模块化设计,原位测试相关技术得以不断升级,包括800℃加热、划痕测试、电特性、扫描探针显微镜 (SPM)成像、力学性能成像(XPM)及动态疲劳测试等技术

 

配备PerformechII先进控制模块,反馈频率达到78 kHz, 数据采集频率达到39 kHz,可以捕捉断裂引发等瞬时事件


 

功能齐全

 

Hysitron PI 89可以轻松安装到扫描电子显微镜台上,不需 要一直固定在显微镜上。其设计小巧,大幅增加物台倾斜 度、缩短工作距离,确保测试期间实现佳成像。

 

PI89平台经过改装,在系统的样品位置增加了一个滑移台。该设计可方便快速地调整样品相对于传感器的位置,并可配置可更换压头、样品和其它附加装置。

 

同时扩大了可用空间,可以容纳更大的样品、附加样品台和新的配件。

 

此外,选用新的直线编码样品台,可以提高自动运动中的 重复性,同时扩大行程范围。通过重新设计机械载荷架轴,提升了框架刚度。

 



 

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