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bruker原子力显微镜,即afm(Atomic Force Microscope)是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。
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