资料下载您的位置:网站首页 >资料下载>能量色散型与波长色散型X射线荧光分析仪的特点与差异

能量色散型与波长色散型X射线荧光分析仪的特点与差异

发布时间:2021/7/28   点击次数:27
 
提 供 商: 上海尔迪仪器科技有限公司 资料大小:
图片类型: 下载次数: 9
资料类型: OCX 浏览次数: 27
 

X 射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法(例如:发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等),XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。

X 射线荧光分析技术可以分为两大类型:能量色散X 射线荧光分析(EDXRF)和波长色散X 射线荧光分析(WDXRF);而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD 型。在不同的应用条件下,这几种类型的技术各有其突出的特点。


 
文件下载    

Contact Us
  • QQ:3218790381
  • 邮箱:3218790381@qq.com
  • 地址:上海市闵行区中春路7001号C座1003室

扫一扫  微信咨询

©2021 上海尔迪仪器科技有限公司 版权所有    备案号:沪ICP备19038429号-5    技术支持:化工仪器网    Sitemap.xml    总访问量:13311    管理登陆