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bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200

简要描述:bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。

  • 所在城市:国外
  • 厂商性质:经销商
  • 更新日期:2021-06-25
  • 访  问  量:182
详细介绍
品牌其他品牌价格区间100万-200万
产品种类接触式轮廓仪/粗糙度仪产地类别进口
应用领域化工,电子,综合重量67kg
垂直分辨率<0.01 nm样品高度≤100 mm (4 in.)
XY样品台150mmZ轴聚焦自动
台阶高度准确性<0.75%放大器0.55X,,075X,1X,1.5X,2X
尺寸480mmx604mmx754mm

bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。

 

bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200还配有业界先进的操作和分析软Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。

 

优质的测量与分析功能

 

·易于使用的界面,可快速准确地获得结果

·自动化功能用于日常测量和分析

·广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析

·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告

 

先进计量设备

 

·基于超过四十年的专有WLI创新,ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、高速、高精度的准确结果。

·通过使用多个镜头和集成的特征识别功能,设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征,可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。

 

高性能表面计量 

 

·放大倍率无关的业界好Z轴分辨率

·大尺寸的标准视场

·稳定集成防震设计

 

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