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产品介绍|Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光谱仪

更新时间：2025-06-10浏览：56次

Bruker M4 TORNADO PLUS

用于超轻元素分析的微区XRF成像光谱仪

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M4 TORNADO PLUS能够检测、分析从碳（C）到镅（Am）全元素的微区XRF成像光谱仪。作为久经验证、市场的M4 TORNADO微区XRF分析仪系列的成员，M4 TORNADO PLUS还具备多项创新功能，例如：创新的孔径管理系统、超高通量脉冲处理器以及灵活的快速更换样品台。

产品特点

·两个大面积硅漂移探测器（SDD），配备超轻元素窗口

·高性能X射线管，增强低能量激发

·超高通量脉冲处理器

·zhuan利孔径管理系统（AMS）

·快速更换样品台（可选多种样品支架）

·第二X射线管，配备自动四位置准直器切换装置（选配）

·可编程氦气吹扫系统（选配）

产品优势

·轻元素检测下限至碳（C）

·提升轻元素检测效率

·缩短采集时间，提升分析效率

·高景深设计，确保表面形貌复杂样品成像时更多特征与细节清晰聚焦

·缩短样品更换与系统准备时间

·高能谱线分析灵活性更高

·常压环境下实现轻元素分析性能

仪器亮点

M4 TORNADO PLUS 通过采用配备超轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）及超高通量脉冲处理器，实现了对碳（C）以上轻元素的高效检测，并大幅提升了采集速度。其zhuan利孔径管理系统（AMS）可提供景深性能，即使是表面形貌复杂的样品也能实现精准分析。

得益于低能量范围内显著增强的灵敏度，钠（Na）至氯（Cl）元素的检测性能大幅提升，与入门级微区XRF系统相比，典型计数率（cps）增幅高达20倍。

凭借这些性能突破，前沿研发领域可受益于高速微区XRF面扫描。

产品规格

样品类型	固体、颗粒、液体
样品室尺寸	W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm
样品台	W x D: 330 mm x 170 mm, 最大载重： 7 kg
测量气体	空气环境或可调真空（配备无油泵，约3分钟可达2毫巴），可选氦气吹扫系统
样品行程	最大行程： W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm 扫描行程： W x D: 190 mm x 160 mm 移动速度：采用TurboSpeed样品台时最高可达100 mm/s
样品视图	双路实时俯视成像系统（不同放大倍率）实现样品概览与精确定位，侧向鱼眼镜头提供样品室全景监控
激发	第一X射线管：高亮度、轻元素微焦斑X射线管，配备多导毛细管X射线光学系统和孔径管理系统（AMS）靶材：铑（Rh），可选银（Ag）管参数：50 kV，30 W 光斑尺寸：使用多导毛细管透镜时，≤20μm (Mo Kα @17.5 keV) 滤光片：8种激发滤光片可选第二X射线管：细聚焦X射线管，配备四位置准直器切换装置，准直器尺寸从0.5 mm到4.5 mm 靶材：钨（W），可选铑（Rh）、钼（Mo）、铜（Cu）、铬（Cr）管参数：50 kV，40 W 滤光片：8种激发滤光片
探测器	XFlash®超轻元素硅漂移探测器，可检测从碳（C）到镅（Am）的元素，支持双探测器。敏感区域面积：2 x 60 mm²；能量分辨率：< 145 eV（在输入计数率为 600,000 cps 时）；吞吐量：最高可达 550,000 cps 输出计数率
仪器控制	先进的PC，Windows®操作系统 X射线管参数、滤光片、光学显微镜、样品照明及样品定位全面控制
光谱评估	峰识别、伪影与背景校正、峰面积计算、FP定量分析，使用 XMethod 进行基于标样和无标样的校准定量分析
分布分析	“On the fy" 测量，HyperMap功能
结果呈现	定量分析结果，统计评估，元素分布（线扫描，面扫描）
电源要求	100 - 240 V (1P), 50/60 Hz
尺寸和重量	W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg*
质量与安全	DIN EN ISO 9001:2015, CE 认证，UKCA 认证；全面辐射防护系统；辐射量 < 1 μSv/h

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