简要描述:Bruker布鲁克纳米压痕仪划痕仪PI 89利用扫描电子显微镜(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系统搭载 Bruker 电容传感技术,继承了商业化原位 SEM 纳米力学平台的优良功能。该系统可实现包括纳米压痕、拉伸、微柱压缩、微球压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能成像等功能。
品牌 | Bruker/大昌华嘉 | 价格区间 | 100万-150万 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 化工,生物产业,石油,地矿,综合 |
样品定位范围 | 12 mm x 26 mm x 29 mm (压痕轴) | 样品定位灵敏度 | 1 nm (编码) |
系统基本重量 | 480g |
Bruker布鲁克纳米压痕仪划痕仪PI 89利用扫描电子显微镜(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系统搭载 Bruker 电容传感技术,继承了原位 SEM 纳米力学平台的优良功能。该系统可实现包括纳米压痕、拉伸、微柱压缩、微球压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能成像等功能。
Hysitron PI 89的紧凑设计允许样品台倾斜,以及测试时成像的最小工作距离。PI 89为研究者提供了比竞争产品更广阔的适用性和性能:
Hysitron PI 89利用布鲁克先进的亚纳米尺度传感器和压电力驱动结构实现真正的位移控制和载荷控制测试:
Hysitron PI 89获得的原位力学测试结果与SEM成像同步且并列显示。这使得用户能观察到缺陷、应变、热/电刺激对于工程材料性能、寿命和耐久性从纳米到微米尺度的影响。这种同步实现更多的分析:
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